Automatization of I-V measurement set-up using LabView

Guardado en:
Autor principal: Kovács, Krisztián (Autor)
Otros Autores: Marek, Juraj (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
inglés
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022
Materias:
Výkonový MOSFET
LabVIEW
Keithley 2612A
Automatizované merania
Power MOSFET
Automatized measurements
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildA11TCS&sid=85CE14C1EED0152B7639D79735B2&seo=CRZP-detail-kniha
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp88790
003 SK-STU
005 20241121151942.3
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xo 
100 1 |a Kovács, Krisztián  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 104330  |U E030  |Y 549  |7 104330 
242 0 1 |a Automatizácia meracieho pracoviska pre I-V merania s využitím LabVIEW  |y slo 
245 1 0 |a Automatization of I-V measurement set-up using LabView 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2022 
300 |a 80 s. 
650 4 |a Výkonový MOSFET  |2 slo 
650 4 |a LabVIEW  |2 slo 
650 4 |a Keithley 2612A  |2 slo 
650 4 |a Automatizované merania  |2 slo 
650 4 |a Power MOSFET  |2 eng 
650 4 |a LabVIEW  |2 eng 
650 4 |a Keithley 2612A  |2 eng 
650 4 |a Automatized measurements  |2 eng 
700 1 |a Marek, Juraj  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 24483  |U E030  |Y 549  |7 A000024483 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildA11TCS&sid=85CE14C1EED0152B7639D79735B2&seo=CRZP-detail-kniha 

Ejemplares similares