Analýza vlastností materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu

Guardado en:
Autor principal: Csermák, Adam (Autor)
Otros Autores: Kováč, Jaroslav (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Materias:
Ramanova termometria
GaN HEMT
Ramanov rozptyl
Ramanov posun
Ramanova spektroskopia
Raman spectroscopy
Raman thermometry
Raman scattering
Raman shift
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildA2TDI&sid=C0DEB8E07572332BA32A0B15805F&seo=CRZP-detail-kniha
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp89600
003 SK-STU
005 20241125134137.9
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Csermák, Adam  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 85797  |U E030  |Y 549  |7 85797 
242 0 1 |a Analysis of Material Properties Using Micro-Raman Microscope  |y eng 
245 1 0 |a Analýza vlastností materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 72 s. 
650 4 |a Ramanova termometria  |2 slo 
650 4 |a GaN HEMT  |2 slo 
650 4 |a Ramanov rozptyl  |2 slo 
650 4 |a Ramanov posun  |2 slo 
650 4 |a Ramanova spektroskopia  |2 slo 
650 4 |a Raman spectroscopy  |2 eng 
650 4 |a Raman thermometry  |2 eng 
650 4 |a GaN HEMT  |2 eng 
650 4 |a Raman scattering  |2 eng 
650 4 |a Raman shift  |2 eng 
700 1 |a Kováč, Jaroslav  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 42526  |U E030  |Y 549  |7 A000042526 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildA2TDI&sid=C0DEB8E07572332BA32A0B15805F&seo=CRZP-detail-kniha 

Ejemplares similares