Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramanovského mikroskopu

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Benovič, Erik (Autore)
Altri autori:	Kováč, Jaroslav (Relatore della tesi)
Natura:	Manoscritto Libro
Lingua:	slovacco
Pubblicazione:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Soggetti:	Ramanovská spektroskopia Meracie pracovisko Meranie kremíka a fosfidu india Measuring workplace Silicon and indium phosphide measurement Raman spectroscopy
Accesso online:	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildAN184&sid=08878EB2E7E37CD0999A73C0752B&seo=CRZP-detail-kniha
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp91920
003	SK-STU
005	20241114130851.7
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Benovič, Erik \|u 033000 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 111064 \|U E030 \|Y 549 \|7 111064
242	0	1	\|a Analysis of material structure using micro-Raman microscope \|y eng
245	1	0	\|a Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramanovského mikroskopu
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2023
300			\|a 34 s.
650		4	\|a Ramanovská spektroskopia \|2 slo
650		4	\|a Meracie pracovisko \|2 slo
650		4	\|a Meranie kremíka a fosfidu india \|2 slo
650		4	\|a Measuring workplace \|2 eng
650		4	\|a Silicon and indium phosphide measurement \|2 eng
650		4	\|a Raman spectroscopy \|2 eng
700	1		\|a Kováč, Jaroslav \|u 033000 \|k Z1 \|4 ths \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 42526 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000042526
856	4		\|u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildAN184&sid=08878EB2E7E37CD0999A73C0752B&seo=CRZP-detail-kniha