Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Maruščák, Šimon (Author)
Other Authors: Hausner, Michal (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Subjects:
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildSPB04&sid=08878EB2E7E37CD090917BC0752B&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp92690
003 SK-STU
005 20241114132446.7
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Maruščák, Šimon  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 111077  |U E030  |Y 549  |7 111077 
242 0 1 |a Analysis of materials surface using atomic force microscope  |y eng 
245 1 0 |a Analýza povrchu materiálov pomocou atómového silového mikroskopu 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 46 s. 
650 4 |a topografia  |2 slo 
650 4 |a princíp činnosti  |2 slo 
650 4 |a vlnovodné štruktúry  |2 slo 
650 4 |a poklepávací mód  |2 slo 
650 4 |a AFM  |2 slo 
650 4 |a topography  |2 eng 
650 4 |a principle of operation  |2 eng 
650 4 |a waveguide structures  |2 eng 
650 4 |a tapping mode  |2 eng 
650 4 |a AFM  |2 eng 
700 1 |a Hausner, Michal  |u 033000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 72632  |U E030  |Y 549  |7 72632 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildSPB04&sid=08878EB2E7E37CD090917BC0752B&seo=CRZP-detail-kniha