-
Návrh komunikácie integrovaného obvodu 8255 s PC = Design of 8255 integrated circuit communication with PC : Bakalárska práca
-
Príspevky k teórii logických obvodov : Habil.práca : Obh. 21.11.1995 /
-
Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie výkonových integrovaných obvodov
-
Príspevok k návrhu a implementácii RF integrovaných obvodov v CMOS technológii : Dát. obhaj. 8.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13
-
Využitie umelých neurónových sietí v diagnostike integrovaných obvodov : obhaj. 19.12.2007
-
Testovanie a lokalizácia defektných částí zmiešaných integrovaných obvodov pomocou vstavaného IDD prúdového monitora : Č.ved.odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.5.2008
-
Vybrané problémy integrácie obvodov pre vysoké : Dát.obhaj. 22.09.2009
-
Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe : Obh. 09.09.2003
-
On-chip power supply current monitoring of CMOS VLSI circuits = Testovanie CMOS VLSI obvodov monitorovaním prúdu z napájacieho zdroja priamo na čípe : Dizertačná práca : Obh. 22.05.1997 /
-
Nitridové vrstvy pre Schottkyho kontakty na GaAs : Kand.diz.práca : V.odb. 26-11-9 : Obh. 20.10.1994 /
-
Herausforderung Mikroelektronik /
-
Algorithms and parallel VLSI architectures : Konf. Proceedings of the International Workshop on Algorithms and Parallel VLSI Architectures , Abbaye des Prémontrés,Pont-aMousson, France, 10.- 16. June 1990 : Obs. Vol.A., Tutorials, 475 s.. Vol.B., Proceedings, 524 s /
-
Formal equivalence checking and disign debugging
-
System level hardware/software co-design : An industrial approach
-
Proceedings the European conference on design automation with the European event in ASIC design : 2.diel:The user forum and AUROASIC prizes sessions : Konf. EURO ASIC '93, Paris, France, 22.- 25. Feb. 1993 : Obs. 1.zv.:, 601 s.. 2.zv.:, 274 s
-
High-level VLSI synthesis /
-
Návrh napäťovej referencie pre analógové integrované obvody V CMOS technológii
-
Logic synthesis and verification algorithms /
-
BEC '96. The 5th biennial Baltic electronics conference : Proceedings : Konf. Tallinn, Estonia, 7.- 11. Oct. 1996
-
Introduction to digital systems
-
Návrh a realizácia adaptéra MTS 01 Adaptér TTL 3 /
-
Handbook of Semiconductor Lasers and Photonic Integrated Circuits /
-
Combinatorial algorithms for integrated circuit layout /
-
Začínáme pracovat s mikrokontroléry Motorola HC08 NITRON
-
Príspevok k výpočtu oteplenia tenkej vrstvy viacvrstvej štruktúry oteplovanej elektrónovým zväzkom : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 06.01.1982 /
-
Moddeling, design and preparation of the quantum semiconductor heterostructures = Modelovanie, návrh a realizácia kvantových polovodičových heteroštruktúr : Kand.diz.práca : V.odb. 26-11-9 : Obh. 11.11.1993 : Projekt III-7-2/03,1/990 324/91-93,JEP 1565-91 /
-
Vysokofrekvenčné naprašovanie viaczložkových materiálov, najmä zliatin hliníka vhodných pre metalizáciu integrovaných obvodov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 13.11.1980 /
-
Nitridové vrstvy pre Schottkyho kontakty na GaAs : Kand.diz.práca : V.odb. 26-11-9 : Obh. 20.10.1994 /
-
Atómová sonda iónového mikroskopu : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 19.04.1974 /
-
Problémy prípravy elektroluminiscenčných vrstiev ZnS, ich niektoré vlastnosti a aplikácie : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 14.03.1974 /
-
Augerova elektrónová spektroskopia tenkovrstvových štruktúr : Kand.diz.práca : Obh. 12.06.1985 : Projekt III-4-3/4 /
-
Príprava SiO2 vrstiev v mikrovlnnom kyslíkovom výboji a ich vlastnosti : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 22.01.1976 /
-
Výskum MOS štruktúr fotoelektrickými metódami : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 07.01.1982 : Projekt III-4-3/1 /
-
Príspevok k metódam kvantitatívnej elektrónovej spektroskopie tuhých látok : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 07.01.1982 : Projekt III-4-3/4III-6-1/08 /
-
Výskum podmienok prípravy a vlastností Schottkyho štruktúr so silicidom platiny : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 19.02.1980 /
-
Modelovanie elektronickej štruktúry MESFET tranzistora a meranie jeho základných vlastností : Dipl.práca
-
MQW detektory infračerveného žiarenia = MQW infrared photodetector : Dipl.práca
-
Výskum povrchov, pevných látok pomocou AES, DPE a HSSI : Etapová správa o riešení čiastkovej úlohy III-4-3/4 štátného plánu základného výskumu
-
Elektrónová a iónová spektroskopia mikroelektronických štruktúr : Priebežná výskumná správa úlohy III-6-1/08
-
Výskum katódového naprašovania, iónového plátovanie a iónového leptania vrstových štruktúr. Časť A: Výskum VF naprašovania kovových vrstiev : Etapová správa o riešení čiastkovej úlohy III-4-3/1 štátného plánu základného výskumu
-
Mikroelektronické technológie a štruktúry, časť II KE 09 Technologické postupy realizácie štruktúr na báze GaAs : Záverečná výskumná správa III-7-2/01
-
Problémy prípravy elektroluminiscenčných vrstiev ZnS, ich niektoré vlastnosti a aplikácie : Štátna výskumná úloha III-3-3/1 časť d. Dielčia správa za rok 1972
-
Vákuová tesnosť keramiky za vyšších teplôt : Záverečná zpráva výskumnej úlohy: 1964: 353/MTS-4, 1965: 14.04/g
-
Výskum katódového naprašovania, iónového plátovanie a iónového leptania vrstových štruktúr. Časť B: Vybrané metódy hodnotenia dielektrických vrstiev v rozhraní v MIS štruktúrach : Etapová správa o riešení čiastkovej úlohy III-4-3/1 štátného plánu základného výskumu
-
Metódy, procesy a štruktúry mikroelektroniky a molekulárnej elektroniky : Správa o plnení úloh a cieľov hlavnej úlohy štátného plánu základného výskumu III-7-2
-
Výskum prípravy tenkovrstvových štruktúr katódovým rozprašovaním a vákuovým naparovaním. Časť C/ Pasivácia polovodičových štruktúr : Dielčia správa. Štátna výskumná úloha III-3-5/1
-
Využitie LEED a AUGER spektroskopie v ultravákuu na výskum meteriálov a procesov : Štátna výskumná úloha III-3-3/2-časť b. Dielčia správa za rok 1972
-
Naparovanie tenkých vrstiev GaAs v ultravýkuu : Dielčia etapová správa štátnej výskumnej úlohy III-3-3 (1, časť b)