Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Hlavný autor: Asenov, Asen
Ďalší autori: Cheng, Binjie, Dideban, D., Kováč, Urban, Moezi, N., Millar, Campbell, Roy, Gareth, Brown, Adrew R., Roy, Scott
Médium: Kapitola
Jazyk:English
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!