Electron microscopy and analysis /

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Goodhew, Peter J. (Autore), Humphreys, John (Autore), Beanland, Richard (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: London Taylor and Francis 2001
Edizione:3rd ed.
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MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 0091115
003 SK-STU
005 20211026131545.2
007 ta
008 211026s ----xo-----e------000-0-----d
020 |a 978-0-7484-0968-8 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xxk 
100 1 |a Goodhew, Peter J.  |4 aut 
245 1 0 |a Electron microscopy and analysis /  |c aut. Peter J Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland 
250 |a 3rd ed. 
260 |a London  |b Taylor and Francis  |c 2001 
300 |a 251 s. 
650 0 7 |a elektrónová mikroskopia 
700 1 |a Humphreys, John  |4 aut 
700 1 |a Beanland, Richard  |4 aut 
996 |b 284M088858  |c M* 14511-1  |l MMST  |s A  |a 24  |w 0091115_0001