Electron microscopy and analysis /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Goodhew, Peter J. (Autor), Humphreys, John (Autor), Beanland, Richard (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: London Taylor and Francis 2001
Edición:3rd ed.
Materias:
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MARC

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