Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
1997
|
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES :
- Hĺbkové profilovanie pomocou AES - interpretácia hĺbkových profilov s využitím simulácií pomocou programu T-dyn
- Charekterictika tenkých AIN a Sic vrstiev : Dipl.práca /
- Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike : dát. obhaj. 25.4.2013, č. ved. odb. 5-2-12
- Detekcia a spracovanie signálu z SiC fotodetektorov : Dipl.práca /
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom