Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
1997
|
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
Documenti analoghi: Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES :
- Hĺbkové profilovanie pomocou AES - interpretácia hĺbkových profilov s využitím simulácií pomocou programu T-dyn
- Charekterictika tenkých AIN a Sic vrstiev : Dipl.práca /
- Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike : dát. obhaj. 25.4.2013, č. ved. odb. 5-2-12
- Detekcia a spracovanie signálu z SiC fotodetektorov : Dipl.práca /
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom