Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Gusev, Evgeni (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Dordrecht : Springer Verlag, 2006
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 stu114585
005 20150617225845.9
008 060316s2006----ne------------------eng-d
020 |a 1-4020-4365-1 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a ne 
080 |a 538.9  |7 stu_us_auth*stu7967 
080 |a 539.2 
080 |a 621.328.049.77 
100 1 |a Gusev, Evgeni  |4 aut 
245 1 |a Defects in High-k Gate Dielectric Stacks :  |b Nano-Electronic Semiconductor Devices 
260 |a Dordrecht :  |b Springer Verlag,  |c 2006 
300 |a 492 s 
650 7 |a MIS štruktúry  |2 stusub 
650 7 |a MOS štruktúry  |2 stusub 
650 7 |a nanotechnológie  |2 stusub 
650 7 |a molekulárne vlastnosti  |2 stusub 
996 |b 284EK86207  |c E*86207  |l EE11  |s P  |a 0  |w stu114585_0001