Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom
- Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku
- Vplyv ťažkých iónov Kr na vlastnosti štruktúry MOS so substrátom dotovaným dusíkom
- Skúmanie vlastností štruktúry MOS s nehomogénnym substrátom ožiarenej ťažkými vysokoenergetickýcmi iónmi
- Štúdium vlastností dusíkom dotovaného Si substrátu kapacitnými meracími metódami
- Príprava šikmých plôch na Si štruktúrach
- Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín