Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Bobula, Juraj (Autor)
Ďalší autori:	Ťapajna, Milan, 1977- (Vedúci práce)
Médium:	Rukopis Kniha
Jazyk:	Slovak
Vydavateľské údaje:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2005
Predmet:	elektronika
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu116475
005	20160719165009.5
008	060421s2005----xo------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Bobula, Juraj \|4 aut
245	1		\|a Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2005
300			\|a 41 s
650		7	\|a elektronika \|2 stusub
700	1		\|a Ťapajna, Milan, \|d 1977- \|4 ths \|u E210 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Katedra mikroelektroniky \|X 47721 \|U E210 \|Y 68 \|7 47721