Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2007
|
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov
- Analýza elektrofyzikálných vlastností a energetickej odolnosti moderných výkonových tranzistorov : Dát. obhaj. 17.2.2011, č. ved. odb. 5-2-13
- Charakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou
- Animácie vybraných elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov a AWG analyzátor
- Príspevok ku skúmaniu vlastností vybraných druhov látok : dát. obhaj. 29.05.2007