Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Výbošťok, Miroslav (Autor)
Otros Autores:	Donoval, Daniel, 1953- (Orientador), Vrbický, Andrej, 1979- (Orientador)
Formato:	Manuscrito Libro
Lenguaje:	eslovaco
Publicado:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
Materias:	elektronika elektrofyzikálne vlastnosti tranzistory
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu142726
005	20160719165031.9
008	070627s2007----xo------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Výbošťok, Miroslav \|4 aut
245	1		\|a Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2007
300			\|a 67 s
650		7	\|a elektronika \|2 stusub
650		7	\|a elektrofyzikálne vlastnosti \|2 stusub
650		7	\|a tranzistory \|2 stusub
700	1		\|a Donoval, Daniel, \|d 1953- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 2039 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000002039
700	1		\|a Vrbický, Andrej, \|d 1979- \|4 ths \|u E210 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Katedra mikroelektroniky \|X 4826 \|U E210 \|Y 68 \|7 A000004826