Diagnostika štruktúr MOS vodivostnou metódou

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Jurkovič, Michal, 1986- (Autor)
Ďalší autori:	Harmatha, Ladislav, 1948- (Vedúci práce)
Médium:	Rukopis Kniha
Jazyk:	Slovak
Vydavateľské údaje:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
Predmet:	MOS Mikroelektronika
On-line prístup:	VAIS
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu209124
005	20150617230104.7
008	100818s2010------------------------slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
100	1		\|a Jurkovič, Michal, \|d 1986- \|4 aut \|u E \|T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|X 16059 \|U E \|Y 30 \|7 A000016059
242	0	0	\|a MOS structure diagnostics by means of conductance technique \|y eng
245	1		\|a Diagnostika štruktúr MOS vodivostnou metódou
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2010
300			\|a 95 s
650		7	\|a MOS \|2 stusub
650		7	\|a MOS \|2 stusub
650		7	\|a Mikroelektronika \|2 stusub
700	1		\|a Harmatha, Ladislav, \|d 1948- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 2055 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000002055
856	4		\|a info a plný text \|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=61382 \|3 VAIS