AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2010
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | VAIS |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov
- AFM nanolitografia a jej aplikácia na vybrané polovodičové štruktúry : Č.ved.odb. 26-13-9, Obhj. 11.1.2006
- Characterisation of polycrystalline ZnO heterostructures and devices = Charakterizácia vlastností polykryštalickýchvrstiev ZnO a prvkov na báze heteropriechodov
- Progresívne materiály pre fotonické prvky
- Tvarovanie a analýza vlastností tenkých dielektrických vrstiev
- Nanočastice v životnom prostredí a ich toxické účinky
- Sledovanie vplyvu nanomateriálov na interakciu antibiotík s biomolekulami pomocou elektrochemického senzora