AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2010
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | VAIS |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov
- AFM nanolitografia a jej aplikácia na vybrané polovodičové štruktúry : Č.ved.odb. 26-13-9, Obhj. 11.1.2006
- Characterisation of polycrystalline ZnO heterostructures and devices = Charakterizácia vlastností polykryštalickýchvrstiev ZnO a prvkov na báze heteropriechodov
- Progresívne materiály pre fotonické prvky
- Tvarovanie a analýza vlastností tenkých dielektrických vrstiev
- Nanočastice v životnom prostredí a ich toxické účinky
- Sledovanie vplyvu nanomateriálov na interakciu antibiotík s biomolekulami pomocou elektrochemického senzora