AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov

Saved in:
Main Author: Ščepka, Tomáš, 1985- (Author)
Other Authors: Škriniarová, Jaroslava, 1954- (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
Subjects:
ZnO
atómový silový mikroskop
Mikroelektronika
Online Access:VAIS
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu209134
005 20150617230103.4
008 100818s2010------------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Ščepka, Tomáš,  |d 1985-  |4 aut  |u E  |T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |X 23201  |U E  |Y 30  |7 A000023201 
242 0 0 |a AFM and its use in studying the surfaces of the semiconductors A3B5  |y eng 
245 1 |a AFM a jeho využitie pri štúdiu povrchov A3B5 polovodičov  
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2010 
300 |a 74 s 
650 7 |a ZnO  |2 stusub 
650 7 |a atómový silový mikroskop  |2 stusub 
650 7 |a ZnO  |2 stusub 
650 7 |a Mikroelektronika  |2 stusub 
700 1 |a Škriniarová, Jaroslava,  |d 1954-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1866  |U E030  |Y 549  |7 A000001866 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=61396  |3 VAIS 

Similar Items