Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects : Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2010
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
| Fyzický popis: | 100 s |
|---|