Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects : Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Sumega, Miroslav (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Áč, Vladimír (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Veröffentlicht: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu219998
005 20160719165134.5
008 110113s2010----xo----------------------d
040 |a STU  |b slo 
041 0
044 |a xo 
100 1 |a Sumega, Miroslav  |4 aut 
242 0 0 |a Štúdium ohmických a bariérových javov prechodových vrstiev 
245 1 |a Study of Interconnect Layers Oriented to Ohmic and Barrier Effects :  |b Dát. obhaj. 16.12.2010, čís. ved. odb. 5.2.13 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2010 
300 |a 100 s 
650 7 |a elektronika  |2 stusub 
650 7 |a prechodné javy  |2 stusub 
700 1 |a Áč, Vladimír  |4 ths 
996 |b 284ED01317  |c E*ZP-181  |l EE01  |s A  |a 24  |w stu219998_0001