Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód.
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2011
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | VAIS |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód.
- Pasivácia organických elektroluminiscenčných diód
- Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Meranie a analýza elektrických vlastností tranzistorov typu HEMT
- Meranie a spracovanie biosignálov
- Meranie optických vlastností biologických tkanív