Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód.

Salvato in:
Autore principale: Čižnár, Pavol, 1987- (Autore)
Altri autori: Žiška, Milan, 1952- (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
Pubblicazione: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2011
Soggetti:
Mikroelektronika
Microelectronics
manažment kvality
Accesso online:VAIS
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stu230485
005 20150617230138.8
008 110709s2011----xo------------------slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Čižnár, Pavol,  |d 1987-  |4 aut  |u E  |T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |X 35992  |U E  |Y 30  |7 A000035992 
242 0 0 |a Creating robust test limits when measuring trailing current of semiconductor diodes  |y eng 
245 1 |a Tvorba robustných testovacích hraníc pri meraní záverného prúdu polovodičových diód. 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2011 
300 |a 85 s 
650 7 |a Mikroelektronika  |2 stusub 
650 7 |a Microelectronics  |2 estusub 
650 7 |a manažment kvality  |2 stusub 
700 1 |a Žiška, Milan,  |d 1952-  |4 ths  |u E030  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1992  |U E030  |Y 549  |7 A000001992 
856 4 |a info a plný text  |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=69584  |3 VAIS 
996 |b 284EP09952  |c E*DIPL-9952  |l EE33  |s P  |a 0  |w stu230485_0001 

Documenti analoghi