Processor Functional Test Generation - Some Results with Using of Genetic Algorithms

Enregistré dans:

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Hudec, Ján, 1953- (Auteur)
Format:	Article
Langue:	anglais
Sujets:	VLSI funkčné testovanie simulácia a verifikácia testov generovanie funkčných testov procesorov
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

View in STU Opac

Documents similaires