Processor Functional Test Generation - Some Results with Using of Genetic Algorithms

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Hudec, Ján, 1953- (Autor)
Formato:	Artículo
Lenguaje:	inglés
Materias:	VLSI funkčné testovanie simulácia a verifikácia testov generovanie funkčných testov procesorov
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Descripción
ISBN:	978-0-7695-4418-2

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