Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | VAIS |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
- Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
- Monitorovacia stanica laboratória rtg difrakcie
- Riešenie kryštálovej štrúktury metódami difrakcie RTG žiarenia
- Štúdium nanočastíc pomocou rtg difrakcie
- Štruktúrna analýza základných materiálov pomocou rtg difrakcie
- Analýza napäťových pomerov v tenkých supertvrdých vrstvách