Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu.
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | |
| Natura: | Manoscritto Libro |
| Lingua: | slovacco |
| Pubblicazione: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2012
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | VAIS |
| Tags: |
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stu250568 | ||
| 005 | 20150617230226.5 | ||
| 008 | 120717s2012----xo------------------slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Novák, Patrik, |d 1987- |4 aut |u E060 |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva |X 51414 |U E060 |Y 817 |7 A000051414 | |
| 242 | 0 | 0 | |a Determination of depth profile of the phase composition of thin films by X-ray diffraction at low angle of incidence |y eng |
| 245 | 1 | |a Určenie hĺbkového profilu fázového zloženia tenkých vrstiev pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu. | |
| 260 | |a Bratislava : |b STU v Bratislave FEI, |c 2012 | ||
| 300 | |a 47 s |c 1 príl. | ||
| 650 | 7 | |a Physical Engineering |2 estusub | |
| 650 | 7 | |a X-ray diffraction |2 estusub | |
| 700 | 1 | |a Ballo, Peter, |d 1960- |4 ths |u E060 |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva |X 2121 |U E060 |Y 817 |7 A000002121 | |
| 856 | 4 | |a info a plný text |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=79145 |3 VAIS | |
| 996 | |b 284EP10081 |c E*DIPL-10081 |l EE36 |s P |a 0 |w stu250568_0001 | ||