Parametre porúch v polovodičových štruktúrach
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | VAIS |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Parametre porúch v polovodičových štruktúrach
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Štúdium zvyšovania húževnatosti nitridovej keramiky vnášaním častíc do matrice
- Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Vplyv parametrov prípravy na vybrané vlastnosti kompozitného systému Si3N4+SiC