Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | English |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2014
|
| Subjects: | |
| Online Access: | VAIS |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens :
- Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
- Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie : dát. obhaj. 21.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
- Miniatúrne senzory plynov na báze naprašovaných tenkých vrstiev oxidu niklu : dát. obhaj. 19.12.2014, č. ved. odb. 5-2-13
- Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Digitálny návrh novej architektúry doprednej neurónovej siete : dát. obhaj. 29.3.2012, č. ved. odb. 26-13-9
- Applicability of Diamond and Diamond-like Carbon Thin Films as Biomaterials. : Dát. obhaj. 9.8.2011, č. ved. odb. 5-2-13