Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Gyepes, Gábor, 1985- (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Stopjaková, Viera, 1968- (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2014
Schlagworte:	Mikroelektronika Microelectronics
Online-Zugang:	VAIS
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu292679
005	20230412140349.1
008	140701s2014----xo------------------eng-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a eng
044			\|a xo
100	1		\|a Gyepes, Gábor, \|d 1985- \|4 aut \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 10437 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000010437
242	0	0	\|a Aplikácia IDDT testu na pokrytie prerušení v SRAM poliach \|y slo
245	1		\|a Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : \|b dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2014
300			\|a 98 s \|c AUTOREF. 2014, 36 s.
650		7	\|a Mikroelektronika \|2 stusub
650		7	\|a Microelectronics \|2 estusub
700	1		\|a Stopjaková, Viera, \|d 1968- \|4 ths \|u E030 \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 1939 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000001939
856	4		\|a info a plný text \|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113990 \|3 VAIS
996			\|b 284ED01446 \|c E*ZP-310 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stu292679_0001