Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 26.11.1987 /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Manuscrito Libro |
| Publicado: |
Bratislava :
SVŠT v Bratislave EF,
1986
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares similares: Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů :
- Spolehlivost svarů AU-AL a difuze v systému AU-AL při zvýšených teplotách ve strukturách tenkovrstvých hybridních integrovaných obvodů : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 21.01.1991 /
- Využitie analógových integrovaných obvodov /
- Porovnávacie tabuľky číslicových integrovaných obvodov /
- Elektrická vodivosť kvapalných izolantov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 11.01.1979 /
- Přehled obvodů řady TTL 7400. Díl 1. : 7400 ... 7499
- Navlhávanie celoplastových oznamovacích káblov : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 29.02.1972 /