Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů : Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 26.11.1987 /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Beran, Josef (Autor)
Otros Autores:	Zafka, Miroslav (Orientador)
Formato:	Manuscrito Libro
Publicado:	Bratislava : SVŠT v Bratislave EF, 1986
Materias:	elektrotechnológia integrované obvody
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stu4399
005	20150617225814.1
008	------s1986----------------------------d
040			\|a STU \|b slo
041	0
100	1		\|a Beran, Josef \|4 aut
245	1		\|a Technologické aspekty spolehlivosti integrovaných obvodů : \|b Kand.diz.práca : V.odb. 26-01-9 : Obh. 26.11.1987 / \|c [aut.] Beran,Josef, Ing.; Škol. Zafka,Miroslav
260			\|a Bratislava : \|b SVŠT v Bratislave EF, \|c 1986
300			\|a 99 s : \|b príl + \|c Autoref.1986, 17 s
650		7	\|a elektrotechnológia \|2 stusub
650		7	\|a integrované obvody \|2 stusub
700	1		\|a Zafka, Miroslav \|4 ths
996			\|b 284ED00131 \|c E*KDIZ-532 \|l EE01 \|s A \|a 24 \|w stu4399_0001