Semiconductor material and device characterization

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Autore principale: Schroder, Dieter K (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: New York : John Wiley & Sons, 1998
Edizione:7.ed.
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MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 stu51988
005 20190206124442.1
008 000210s1998----xxu-----------------eng-d
020 |a 0-471-24139-3 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xxu 
080 |a 539  |7 stu_us_auth*stu6136 
080 |a 621.315.592 
084 |a A7220  |2 INS 
084 |a A7280  |2 INS 
084 |a B2520  |2 INS 
100 1 |a Schroder, Dieter K  |4 aut 
245 1 |a Semiconductor material and device characterization 
250 |a 7.ed. 
260 |a New York :  |b John Wiley & Sons,  |c 1998 
300 |a 760 s 
650 7 |a fyzika polovodičov  |2 stusub 
650 7 |a polovodičové materiály  |2 stusub 
996 |b 284EK83123  |c E*83123  |l EE11  |s P  |a 0  |w stu51988_0001