Secondary Ion Mass Spectometry : SIMS 4. Proceedings of the 4th international conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
|---|---|
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Berlin :
Springer Verlag,
1984
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MARC
| LEADER | 00000nam a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stu87465 | ||
| 005 | 20141122112708.8 | ||
| 008 | 040604s1984------------------------eng-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 080 | |a 537.534.3 | ||
| 080 | |a 539.128.4 | ||
| 080 | |a 621.384.8 | ||
| 245 | |a Secondary Ion Mass Spectometry : |b SIMS 4. Proceedings of the 4th international conference. Osaka, 13.- 19. Nov. 1983 | ||
| 260 | |a Berlin : |b Springer Verlag, |c 1984 | ||
| 300 | |a 15,503 s | ||
| 996 | |b E55512 |c E*55512 |l EE11 |s P |a 0 |w stu87465_0001 | ||
| 996 | |b E54727 |c E*54727 |l EE11 |s P |a 0 |w stu87465_0002 | ||