Optické vlastnosti vrstiev nanočastíc

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kurtulík, Matej (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Chlpík, Juraj (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Slowakisch
Veröffentlicht:	2015
Schlagworte:	lokalizovaná plazmónová rezonancia tenké vrstvy elipsometrické meranie thin layers localized plasmons resonance ellipsometric measurement
Online-Zugang:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=105090
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp50183
003	SK-STU
005	20160719153500.7
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
100	1		\|a Kurtulík, Matej \|u 036000 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva \|X 47363 \|U E060 \|Y 817 \|7 A000047363
242	0	1	\|a Optical properties of nanoparticle layers \|y eng
245	1	0	\|a Optické vlastnosti vrstiev nanočastíc
260			\|c 2015
300			\|a 38 s.
650		4	\|a lokalizovaná plazmónová rezonancia \|2 slo
650		4	\|a tenké vrstvy \|2 slo
650		4	\|a elipsometrické meranie \|2 slo
650		4	\|a thin layers \|2 eng
650		4	\|a localized plasmons resonance \|2 eng
650		4	\|a ellipsometric measurement \|2 eng
700	1		\|a Chlpík, Juraj \|4 ths \|X 54417 \|7 A000054417
856	4		\|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=105090
996			\|b 284ER01633 \|c E*Bc- 1633 \|l EE36 \|s P \|a 0 \|w stuzp50183_0001
SQL			\|a stuzp50183 \|b DBP \|c SLO \|d Optické vlastnosti vrstiev nanočastíc \|e 47363 \|f Kurtulík, Matej \|g 036000 \|h 54417 \|i Chlpík, Juraj \|j 20150622 \|k 76 \|l 03 \|m http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=105090 \|n B-ELT \|o 5.2.9. elektrotechnika