Characterization of copper oxide thin films for photoelectrochemical splitting of water

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Janík, Marián (Autore)
Altri autori: Novák, Patrik (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
inglese
Pubblicazione: 2018
Soggetti:
Accesso online:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130857
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp63762
003 SK-STU
005 20181022091323.4
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a xo 
100 1 |a Janík, Marián  |u 036000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 74235  |U E060  |Y 817  |7 A000074235 
242 0 1 |a Charakterizácia tenkých vrstiev oxidu medi určených na fotoelektrochemický rozklad vody  |y slo 
245 1 0 |a Characterization of copper oxide thin films for photoelectrochemical splitting of water 
260 |c 2018 
300 |a 59 s. 
650 4 |a microstress  |2 eng 
650 4 |a crystallite size  |2 eng 
650 4 |a lattice parameter  |2 eng 
650 4 |a microstructural analysis  |2 eng 
650 4 |a X-ray diffraction  |2 eng 
650 4 |a electrodeposition under illumination  |2 eng 
650 4 |a Cu2O  |2 eng 
650 4 |a residual stress  |2 eng 
650 4 |a texture  |2 eng 
650 4 |a photoelectrochemical water splitting  |2 eng 
650 4 |a röntgenová difrakcia  |2 slo 
650 4 |a elektrodepozícia za svetla  |2 slo 
650 4 |a Cu2O  |2 slo 
650 4 |a fotoelektrochemický rozklad vody  |2 slo 
650 4 |a zvyškové napätie  |2 slo 
650 4 |a textúra  |2 slo 
650 4 |a mikronapätie  |2 slo 
650 4 |a veľkosť kryštalitov  |2 slo 
650 4 |a mriežkový parameter  |2 slo 
650 4 |a mikroštruktúrna analýza  |2 slo 
700 1 |a Novák, Patrik  |u 036000  |k Z2  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva  |X 51414  |U E060  |Y 817  |7 A000051414 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130857 
996 |b 284EP11886  |c E*DIPL- 11886  |l EE36  |s P  |a 0  |w stuzp63762_0001