Characterization of copper oxide thin films for photoelectrochemical splitting of water

Uložené v:

Podrobná bibliografia
Hlavný autor:	Janík, Marián (Autor)
Ďalší autori:	Novák, Patrik (Vedúci práce)
Médium:	Rukopis Kniha
Jazyk:	Slovak English
Vydavateľské údaje:	2018
Predmet:	microstress crystallite size lattice parameter microstructural analysis X-ray diffraction electrodeposition under illumination Cu2O residual stress texture photoelectrochemical water splitting röntgenová difrakcia elektrodepozícia za svetla fotoelektrochemický rozklad vody zvyškové napätie textúra mikronapätie veľkosť kryštalitov mriežkový parameter mikroštruktúrna analýza
On-line prístup:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130857
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!

View in STU Opac

Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!