Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Vu Viet, Hoang (Verfasst von)
Weitere Verfasser:	Benko, Peter (Betreuung Doktorarbeit)
Format:	Manuskript Buch
Sprache:	Slowakisch
Veröffentlicht:	2018
Schlagworte:	Automated Testing Diode Integrated Circuit dióda integrovaný obvod automatizované testovanie
Online-Zugang:	http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=124155
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp65239
003	SK-STU
005	20180927151803.7
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Vu Viet, Hoang \|u 033000 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 70029 \|U E030 \|Y 549 \|7 70029
242	0	1	\|a DEVELOPMENT of APPLICATIONS for AUTOMATED TESTING of INTEGRATED CIRCUITS \|y eng
245	1	0	\|a Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie integrovaných obvodov
260			\|c 2018
300			\|a 59 s., príl., \|b CD-ROM
650		4	\|a Automated Testing \|2 eng
650		4	\|a Diode \|2 eng
650		4	\|a Integrated Circuit \|2 eng
650		4	\|a dióda \|2 slo
650		4	\|a integrovaný obvod \|2 slo
650		4	\|a automatizované testovanie \|2 slo
700	1		\|a Benko, Peter \|u 033000 \|k Z2 \|4 ths \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 5148 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000005148
856	4		\|u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=124155
996			\|b 284ER02579 \|c E*Bc- 2579 \|l EE33 \|s P \|a 0 \|w stuzp65239_0001