Funkčné SBST testovanie systémov na čipe s použitím genetických algoritmov

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Bujna, Tomáš (Author)
Other Authors: Hudec, Ján (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: 2018
Subjects:
Online Access:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=122751
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp70217
003 SK-STU
005 20180623211504.8
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
100 1 |a Bujna, Tomáš  |u 070400  |4 aut  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky  |X 79491  |U I400  |Y 672  |7 79491 
242 0 1 |a Functional SBST processor testing on chip with using genetic algorithms  |y eng 
245 1 0 |a Funkčné SBST testovanie systémov na čipe s použitím genetických algoritmov 
260 |c 2018 
650 4 |a Genetický algoritmus  |2 slo 
650 4 |a Generácia  |2 slo 
650 4 |a Chromzóm  |2 slo 
650 4 |a Inštrukcia  |2 slo 
650 4 |a Genetic algorithm  |2 eng 
650 4 |a Generation  |2 eng 
650 4 |a Instruction  |2 eng 
650 4 |a Chromosome  |2 eng 
700 1 |a Hudec, Ján  |u 070400  |k Z1  |4 ths  |U FIIT Fakulta informatiky a informačných technológií  |T FIIT Ústav počítačového inžinierstva a aplikovanej informatiky  |X 1995  |U I400  |Y 672  |7 A000001995 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=122751 
996 |c I*BAP1/18  |l II680  |s P  |a 0  |w stuzp70217_0001