Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=8E0A01F6D74C9FCBC64FEE1E231C&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN
- Analýza porúch v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
- Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN
- SIMS analýza perspektívnych metalizácií AlGaN/GaN štruktúr
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
- Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC