Aplikácia na monitorovanie a analýzu DLTFS experimentov
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B6220C84D7C8&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Aplikácia na monitorovanie a analýzu DLTFS experimentov
- Vplyv koncentrácie dusíka na kvalitu GaAsN štruktúr pre fotovoltické aplikácie
- Kvalita polovodičových štruktúr a prvkov na báze InGaAs
- Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Analýza emisných a záchytných procesov v tranzistoroch s vysokou pohyblivosťou náboja na báze nitridu gália
- Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre 5G sieť
- Effect of different Si doping on the defects distribution in the GaN-based structures