Analýza porúch v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Kraus, Juraj (Author)
Other Authors: Stuchlíková, Ľubica (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Subjects:
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1189F9BEC259&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp73802
003 SK-STU
005 20200730103348.0
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Kraus, Juraj  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 73112  |U E030  |Y 549  |7 73112 
242 0 1 |a Analysis of defects in InAlGaN/GaN HEMT structures by deep level spectroscopy  |y eng 
245 1 0 |a Analýza porúch v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín 
260 |c Bratislava :  |c STU v Bratislave FEI,  |c 2020 
300 |a 52 s. 
650 4 |a DLTS  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a GaN  |2 slo 
650 4 |a HEMT  |2 slo 
650 4 |a DLTS  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a GaN  |2 eng 
650 4 |a HEMT  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DE4D0DBB221E90D1189F9BEC259&seo=CRZP-detail-kniha