Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Juraško, Jakub (Autore)
Altri autori: Stuchlíková, Ľubica (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
Pubblicazione: Bratislava : STU v BRatislave FEI, 2021
Soggetti:
Accesso online:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B56BE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp81796
003 SK-STU
005 20210817131641.6
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Juraško, Jakub  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 98528  |U E030  |Y 549  |7 98528 
242 0 1 |a Investigation of defects in advance semiconductor materials  |y eng 
245 1 0 |a Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch 
260 |a Bratislava :  |b STU v BRatislave FEI,  |c 2021 
300 |a 61 s. 
650 4 |a DLTS  |2 slo 
650 4 |a hlboké energetické hladiny  |2 slo 
650 4 |a SiC  |2 slo 
650 4 |a DLTS  |2 eng 
650 4 |a deep energy levels  |2 eng 
650 4 |a SiC  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B56BE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha