Vývoj metód merania a vyhodnocovania parametrov prototypových ASIC čipov : dátum obhajoby 25.6.2025
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2025
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildK51GB&sid=34C6DEE6AF59A5FA6E01D724BA58&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
| Fyzický popis: | 113 s., Autoref. 2025, 63 s. |
|---|