Vývoj metód merania a vyhodnocovania parametrov prototypových ASIC čipov : dátum obhajoby 25.6.2025
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2025
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildK51GB&sid=34C6DEE6AF59A5FA6E01D724BA58&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
MARC
| LEADER | 00000ntm a22000003a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | stuzp81990 | ||
| 003 | SK-STU | ||
| 005 | 20250903105535.1 | ||
| 007 | ta | ||
| 008 | 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d | ||
| 040 | |a STU |b slo | ||
| 041 | 0 | |a slo | |
| 044 | |a xo | ||
| 100 | 1 | |a Ravasz, Richard |u 033000 |4 aut |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 80601 |U E030 |Y 549 |7 80601 | |
| 242 | 0 | 1 | |a Development of methods for measuring and evaluating parameters of prototype ASIC chips |y eng |
| 245 | 1 | 0 | |a Vývoj metód merania a vyhodnocovania parametrov prototypových ASIC čipov : |b dátum obhajoby 25.6.2025 |
| 260 | |a Bratislava : |b STU v Bratislave FEI, |c 2025 | ||
| 300 | |a 113 s., |b Autoref. 2025, 63 s. | ||
| 650 | 4 | |a meranie prúdu na čipe |2 slo | |
| 650 | 4 | |a napäťové meniče |2 slo | |
| 650 | 4 | |a ASIC |2 slo | |
| 650 | 4 | |a CMOS |2 slo | |
| 650 | 4 | |a on-chip current measurement |2 eng | |
| 650 | 4 | |a voltage converters |2 eng | |
| 650 | 4 | |a ASIC |2 eng | |
| 650 | 4 | |a CMOS |2 eng | |
| 700 | 1 | |a Stopjaková, Viera |u 033000 |k Z1 |4 ths |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky |X 1939 |U E030 |Y 549 |7 A000001939 | |
| 856 | 4 | |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildK51GB&sid=34C6DEE6AF59A5FA6E01D724BA58&seo=CRZP-detail-kniha | |