Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie

Na minha lista:

Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Málik, Viktor (Author)
Outros Autores:	Stuchlíková, Ľubica (Thesis advisor)
Formato:	Manuscrito Livro
Idioma:	eslovaco
Publicado em:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022
Assuntos:	elektricky aktívne poruchy spektroskopia hlbokých hladín karbid kremíka Deep level transient spectroscopy Silicon carbide electrically active defects
Acesso em linha:	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildIE2D5&sid=378281AEB05FBF717034CFA6EBFA&seo=CRZP-detail-kniha
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

View in STU Opac

MARC


LEADER	00000ntm a22000003a 4500
001	stuzp85838
003	SK-STU
005	20230306103931.5
007	ta
008	150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040			\|a STU \|b slo
041	0		\|a slo
044			\|a xo
100	1		\|a Málik, Viktor \|u 033000 \|4 aut \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 104335 \|U E030 \|Y 549 \|7 104335
242	0	1	\|a Identification of defects in modern semiconductor structures for power applications \|y eng
245	1	0	\|a Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
260			\|a Bratislava : \|b STU v Bratislave FEI, \|c 2022
300			\|a 57 s.
650		4	\|a elektricky aktívne poruchy \|2 slo
650		4	\|a spektroskopia hlbokých hladín \|2 slo
650		4	\|a karbid kremíka \|2 slo
650		4	\|a Deep level transient spectroscopy \|2 eng
650		4	\|a Silicon carbide \|2 eng
650		4	\|a electrically active defects \|2 eng
700	1		\|a Stuchlíková, Ľubica \|u 033000 \|k Z1 \|4 ths \|U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky \|T FEI Ústav elektroniky a fotoniky \|X 1997 \|U E030 \|Y 549 \|7 A000001997
856	4		\|u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildIE2D5&sid=378281AEB05FBF717034CFA6EBFA&seo=CRZP-detail-kniha