Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2022
|
| Predmet: | |
| On-line prístup: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildIE2D5&sid=378281AEB05FBF717034CFA6EBFA&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Identifikácia porúch v moderných polovodičových štruktúrach pre výkonové aplikácie
- Identifikácia porúch v polovodičových štruktúrach na báze AlGaN/GaN
- Parametre porúch v polovodičových štruktúrach
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových materiálov a prvkov spektroskopiou hlbokých hladín : dát. obhajoby 23.8.2016, č. ved. odboru 5-2-13
- Skúmanie defektov v polovodičových štruktúrach na báze SiC
- Úloha defektov v organických polovodičoch pre slnečné články : dát. obhajoby 31.5.2016, č. ved. odboru 5-2-48
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom