Analýza emisných a záchytných procesov v tranzistoroch s vysokou pohyblivosťou náboja na báze nitridu gália

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Benc, Peter (Autore)
Altri autori: Stuchlíková, Ľubica (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
Pubblicazione: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Soggetti:
Accesso online:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildG2NI4&sid=A5BC586C45F5195261E728AF963A&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp88509
003 SK-STU
005 20241125133853.3
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Benc, Peter  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 98233  |U E030  |Y 549  |7 98233 
242 0 1 |a Analysis of emission and capture processes in high electron mobility transistors based on gallium nitride  |y eng 
245 1 0 |a Analýza emisných a záchytných procesov v tranzistoroch s vysokou pohyblivosťou náboja na báze nitridu gália 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 54 s. 
650 4 |a DLTFS-O  |2 slo 
650 4 |a hlboké energetické hladiny  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a GaN  |2 slo 
650 4 |a InAlGaN/GaN HEMT  |2 slo 
650 4 |a InAlGaN/GaN HEMT  |2 eng 
650 4 |a GaN  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a DLTFS-O  |2 eng 
650 4 |a deep energy levels  |2 eng 
700 1 |a Stuchlíková, Ľubica  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 1997  |U E030  |Y 549  |7 A000001997 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildG2NI4&sid=A5BC586C45F5195261E728AF963A&seo=CRZP-detail-kniha