Identifikácia porúch v štruktúrach na báze zriedených nitridov

Saved in:
Main Author: Procik, Karol (Author)
Other Authors: Matuš, Matej (Thesis advisor)
Format: Manuscript Book
Language:Slovak
Published: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2025
Subjects:
zriedené nitridy
dióda
porucha
DLTFS
defect
diluted nitride
diode
Online Access:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGEE3BB&sid=BA75C2D62745AD572EEC909ED92F&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp94791
003 SK-STU
005 20260128141327.1
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Procik, Karol  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 115170  |U E030  |Y 549  |7 115170 
242 0 1 |a Identification of defects in structures based on dilute nitrides  |y eng 
245 1 0 |a Identifikácia porúch v štruktúrach na báze zriedených nitridov 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2025 
300 |a 55 s. 
650 4 |a zriedené nitridy  |2 slo 
650 4 |a dióda  |2 slo 
650 4 |a porucha  |2 slo 
650 4 |a DLTFS  |2 slo 
650 4 |a defect  |2 eng 
650 4 |a DLTFS  |2 eng 
650 4 |a diluted nitride  |2 eng 
650 4 |a diode  |2 eng 
700 1 |a Matuš, Matej  |u 033000  |k Z3  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 92528  |U E030  |Y 549  |7 92528 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildGEE3BB&sid=BA75C2D62745AD572EEC909ED92F&seo=CRZP-detail-kniha 

Similar Items