Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Alhwaidy, Osama (Verfasst von)
Weitere Verfasser: Chvála, Aleš (Betreuung Doktorarbeit)
Format: Manuskript Buch
Sprache:Slowakisch
Englisch
Veröffentlicht: 2025
Schlagworte:
Online-Zugang:http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184542
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp99853
003 SK-STU
005 20250614210700.4
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
100 1 |a Alhwaidy, Osama  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 122188  |U E030  |Y 549  |7 122188 
242 0 1 |a Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module  |y slo 
245 1 0 |a Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module 
260 |c 2025 
650 4 |a TCAD Sentaurus  |2 eng 
650 4 |a Multiphysics Simulation  |2 eng 
650 4 |a SiC Power Module  |2 eng 
650 4 |a COMSOL Multiphysics  |2 eng 
650 4 |a SiC MOSFET Power Module  |2 eng 
650 4 |a Trench MOSFET  |2 eng 
650 4 |a Material Thickness Optimization  |2 eng 
650 4 |a Multiphysics Simulation  |2 slo 
650 4 |a Trench MOSFET  |2 slo 
650 4 |a COMSOL Multiphysics  |2 slo 
650 4 |a TCAD Sentaurus  |2 slo 
650 4 |a SiC MOSFET Power Module  |2 slo 
650 4 |a Material Thickness Optimization  |2 slo 
650 4 |a SiC Power Module  |2 slo 
700 1 |a Chvála, Aleš  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 10315  |U E030  |Y 549  |7 A000010315 
856 4 |u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=184542