-
Elektrická charakterizácia MOS-HFET tranzistorov pripravených na základe GaN
-
Robustné senzory tlaku na báze AlGaN/GaN HEMT pre vysokoteplotné aplikácie : dát. obhaj. 23.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13
-
Meranie a analýza elektrických vlastností tranzistorov typu HEMT
-
Návrh spínaného zdroja napätia s GaN tranzistorom
-
Charakterizácia vrstiev ZrO2 pre použitie v GaN MOSHFETe
-
Vysoko-výkonové normálne-zatvorené spínacie tranzistory na báze GaN : dát. obhaj. 23.9.2014, č. ved. odb. 5-2-13
-
Analýza porúch v polovodičových štruktúrach a prvkoch na báze GaN
-
Aplikácia metódy Monte Carlo v rastrovacej elektrónovej mikroskopii GaN štruktúr : dát. obhaj. 20.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
-
Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT štruktúr na báze GaN/AlxGa1-xN/GaN/AlxGa1-xN/AlN
-
AlGaN/Gan Hemt pre senzorické aplikácie : Dát. obhaj. 24.2.2010, č. ved. odb. 5.2.13
-
Elektrická charakterizácia Schottkyho štruktúr s heteropriechodom AlGaN/GaN : dát. obhaj. 11.4.2013, č. ved. odb. 5-2-13
-
Chemická analýza heteroštruktúr InGaN/GaN a AlGaN/GaN
-
Diagnostika kremíkových heteroštruktúr pre moderné fotovoltické aplikácie : dát. obhaj. 25.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
-
Príprava a vlastnosti AlGaN/GaN tranzistorov HEMT
-
Simulácia vybraných elektrických vlastností HEMT na báze heteroštruktúr GaN/AlxGa1-xN.
-
Príprava a charakterizácia elektrických vlastností organických poľom riadených tranzistorov na báze pentacénu
-
Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie : dát. obhaj. 21.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
-
Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9
-
Miniatúrne senzory plynov na báze naprašovaných tenkých vrstiev oxidu niklu : dát. obhaj. 19.12.2014, č. ved. odb. 5-2-13
-
Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
-
Digitálny návrh novej architektúry doprednej neurónovej siete : dát. obhaj. 29.3.2012, č. ved. odb. 26-13-9
-
Applicability of Diamond and Diamond-like Carbon Thin Films as Biomaterials. : Dát. obhaj. 9.8.2011, č. ved. odb. 5-2-13
-
MEMS gas sensors based on SAW-HEMT structures
-
Skúmanie kvality polovodičových materiálov a štruktúr metódou DLTS : dát. obahj. 27.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13