Industrial engineering and technology development supported by statistical methods
Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach.
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | English |
| Subjects: | |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|