Industrial engineering and technology development supported by statistical methods
Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Formato: | Capítulo de libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Sumario: | Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach. |
|---|