Industrial engineering and technology development supported by statistical methods
Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach.
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Buchkapitel |
| Sprache: | Englisch |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
| Zusammenfassung: | Nanoveda, nanotechnológie, nanometria a technologické inžinierstvo. Charakteristika technologických možností meracích a výrobných zariadení ako aj možnosti investovania v spomenutých oblastiach. |
|---|